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產(chǎn)品編碼：001
計(jì)量單位：臺(tái)
折 扣 率： 0
最后更新：2014-09-16
關(guān) 注 度：3449
生產(chǎn)企業(yè)：朗鐸投資控股（北京）有限公司
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產(chǎn)品詳細(xì)介紹品牌： 賽默飛世爾 型號(hào)：
制造商：美國(guó)賽默飛世爾 經(jīng)銷商：朗鐸投資控股（北京）有限公司
免費(fèi)咨詢電話：800-8900-558
XPS的主要應(yīng)用
識(shí)別污點(diǎn)或變色
清潔度的表征
分析粉末和碎片的組成份
識(shí)別和量化表面變化前后聚合物的功能參數(shù)
測(cè)量硬盤上的潤(rùn)滑劑厚度
深度分析
測(cè)量樣品的氧化層厚度
XPS技術(shù)性能
信號(hào)檢測(cè)
光電子
元素檢測(cè)
Li-U及其化合價(jià)信息
檢測(cè)限
0.01 – 1% （原子百分比）
深度分辨率
20 - 200 Å（深度分析模式）
10 - 100 Å (表面分析）
成像/繪圖
是
橫向分辨率
10 µm
XPS分析的理想用途
有機(jī)材料、無機(jī)材料、污點(diǎn)、殘留物的表面分析
測(cè)量表面成分及化學(xué)狀態(tài)信息
薄膜成份的深度剖析
硅氧氮化物厚度及成分分析
薄膜氧化物厚度測(cè)量（SiO2, Al2O3 等）
XPS分析的相關(guān)領(lǐng)域
航空航天
汽車
生物醫(yī)學(xué)
半導(dǎo)體
數(shù)據(jù)存儲(chǔ)
國(guó)防
顯示器
電子
工業(yè)產(chǎn)品
照明
制藥
光電子
聚合物
半導(dǎo)體
太陽能光伏發(fā)電
電信
XPS分析的優(yōu)勢(shì)
表面元素的化學(xué)狀態(tài)識(shí)別
除H和He外，可檢測(cè)其他所有元素
定量分析
適用于多種材料，包括絕緣樣品（紙，塑料、玻璃等）
可用于深度分析
氧化物厚度測(cè)量
XPS分析的局限性
檢測(cè)限通常在~ 0.01 %
束斑較大，約為~10 µm
有限的具體有機(jī)物信息
需要超高真空（UHV）環(huán)境
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| 會(huì)員級(jí)別：免費(fèi)會(huì)員 |
| 加入時(shí)間：2014-09-05
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